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鍍層膜厚儀-鴻熙百科
  • 更新日期:2022-04-24      瀏覽次數:1057
    •   一、概述
        鍍層膜厚儀是一種用于測量工業制品表面涂層或鍍層的厚度的儀器,它可以通過反射或透射光線或電磁波來測量涂層或鍍層的厚度。該儀器廣泛應用于材料科學、制造業、涂層和表面工藝領域。
        二、工作原理
        工作原理是利用不同類型的傳感器,利用電流、光線反射和透射等方法,獲得表面涂層厚度的信息。
        三、分類
        按照測量原理分類,可以分為以下幾類:
        1.X射線膜厚儀
        2.電磁渦流膜厚儀
        3.光學膜厚儀
        4.激光光譜膜厚儀
        5.螺旋掃描膜厚儀
        按照用途分類,可以分為以下幾類:
        1.金屬表面涂層或鍍層測量儀
        2.金屬和非金屬表面涂層或鍍層測量儀
        3.軟膜和有機膜測量儀
        4.半導體或者電子元器件重要部位多層結構膜厚測量儀
        按照測量范圍分類,可以分為以下幾類:
        1.納米級膜厚測量儀
        2.微米級膜厚測量儀
        3.毫米級以上膜厚測量儀
        四、構造
        基本構造包括:測量頭、傳感器、主機、控制電路和顯示器等組成。其構造特點主要根據所采用的測量原理和應用場景而決定。
        1.測量頭:根據不同的測量精度和應用場景而設計的。測量頭通常是由滑動、轉動、伸縮等手段組成,用于向被測物體的表面靠近。在具體的測量任務中,不同的測量頭可能會有不同的設計,并配有不同類型的探測器。
        2.傳感器:其不同的設計原理直接影響了測量的精度和應用場景。傳感器的設計通常包括探頭、光源、光束分離器、探測器、電路和處理器等。
        3.主機:指與傳感器和測量頭連接的控制中心,包括供電和控制電路,以及顯示器和數據接口等。主機的設計應保證可靠性和穩定性,以及靈活的數據處理能力,從而滿足各種不同的應用要求。