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鍍層測厚儀的產品功能特性介紹
  • 更新日期:2021-04-21      瀏覽次數:980
    • 射線鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到質量標準的手段。我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
      鍍層測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等。主要分為磁性鍍層測厚儀、電渦流鍍層測厚儀,X射線鍍層測厚儀三類測量方法。
      鍍層測厚儀采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。
      x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線,然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度,這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加,厚度值也增加,但不是直線關系;通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。
      鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
      x射線鍍層測厚儀的特點:
      1、一次可同時分析24個元素。
      2、任意多個可選擇的分析和識別模型。
      3、相互獨立的基體效應校正模型。
      4、多變量非線性回收程序。
      5、專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
      6、針對不同樣品可自動切換準直器。
      7、智能貴金屬檢測軟件,與儀器硬件相得益彰。
      8、內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。