（一）X射線膜厚測試儀產品優勢：

1. 鍍層檢(jian)測，多鍍層檢(jian)測可(ke)達5層，精度及穩定性可(ke)控制在(zai)+/-5%內。

2. 儀(yi)器尺寸：618*525*490mm。

3. 激光定位和自動多(duo)點測(ce)量功能。

可檢測固(gu)體、粉末狀態(tai)材(cai)料。

運行及維護成本低(di)、無易(yi)損(sun)易(yi)耗品，對(dui)使用環境相(xiang)對(dui)要求低(di)。

可(ke)進行未知標樣掃描、無標樣定性，半(ban)定量分(fen)析。

操作(zuo)簡單、易學易懂(dong)、精準(zhun)無損、高品質、高性能、高穩定性，快速(su)出檢測(ce)結(jie)果。

可針對客戶個性化(hua)要求(qiu)量身定做(zuo)輔(fu)助分析配置硬件。

軟件*升級。

無損檢測，一次性購買標樣(yang)可(ke)長期使用。

使用安心無憂，售后服(fu)務(wu)(wu)響應時間24H以(yi)內(nei)，提供*保姆式服(fu)務(wu)(wu)。

可以遠程操作(zuo)，解(jie)決客戶使用(yong)中的后顧之憂。

可進(jin)行RoHS檢(jian)測（選(xuan)配功能），應對新版(ban)中華人(ren)民(min)共和國RoHS檢(jian)測要(yao)求(qiu)(qiu)，歐盟(meng)及北美(mei)RoHS檢(jian)測等要(yao)求(qiu)(qiu)標準，精(jing)確的(de)測試(shi)RoHS指令(ling)(ling)中的(de)鉛、汞(gong)、鎘、鉻、鋇(bei)、銻、硒、砷等重金屬，測試(shi)無鹵素(su)指令(ling)(ling)中的(de)溴、氯等有害元素(su)。亦可對成(cheng)分(fen)(fen)進(jin)行分(fen)(fen)析(xi)。

（二）X射線膜厚測試儀產品特征

高性(xing)能高精度X熒光光譜儀（XRF）

計算機 / MCA(多(duo)通道分析(xi)儀)

2048通道逐次(ci)近似(si)計算法(fa)ADC（模擬數字轉換器(qi)）

Multi Ray. 運(yun)用(yong)基本參(can)數（FP）軟件(jian)，通過(guo)簡單的三步進(jin)行無標樣標定，使用(yong)基礎參(can)數計算方法，對樣品進(jin)行精確的鍍(du)層厚度分析，可以增加RoHS檢測功(gong)能(neng)。

MTFFP (多層(ceng)薄膜(mo)基本參(can)數法) 模塊進行鍍層(ceng)厚(hou)度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模(mo)式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性(xing)模式進行薄鍍(du)層厚(hou)度測量

相對（比）模式  無焦(jiao)點測量(liang) DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用(yong) [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用(yong) [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金(jin)鍍層應 [如：Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快(kuai)速、簡單(dan)的定性分(fen)析(xi)的軟件模塊。可同(tong)時分(fen)析(xi)20種元素。半定量分(fen)析(xi)頻譜(pu)比(bi)較、減法運(yun)算(suan)和配(pei)給(gei)。

Smart-Ray. 金屬行業(ye)精(jing)確定量分(fen)(fen)析軟件。可一(yi)次性(xing)分(fen)(fen)析25種元素。小二乘法(fa)計算(suan)峰值(zhi)反卷積。采用(yong)盧卡斯(si)-圖(tu)思計算(suan)方法(fa)進(jin)行矩陣校(xiao)正(zheng)及(ji)內(nei)部元素作(zuo)用(yong)分(fen)(fen)析。金屬分(fen)(fen)析精(jing)度可達+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分(fen)(fen)析精(jing)度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素(su)、內(nei)部元素(su)、矩陣校(xiao)正模塊

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操(cao)作系統

完整(zheng)的(de)統計(ji)函(han)數均(jun)值、 標準差(cha)、 低/高讀(du)數，趨勢(shi)線，Cp 和(he) Cpk 因(yin)素等(deng)

自(zi)動移動平臺(tai)，用戶使用預(yu)先設定好的(de)程(cheng)序(xu)進行(xing)自(zi)動樣(yang)品測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。大測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)點(dian)數量(liang)(liang)(liang) = 每(mei)(mei)9999 每(mei)(mei)個(ge)(ge)階段文(wen)件(jian)。每(mei)(mei)個(ge)(ge)階段的(de)文(wen)件(jian)有多(duo) 25 個(ge)(ge)不同應用程(cheng)序(xu)。特殊工具如"線掃描"和(he)"格(ge)柵"。每(mei)(mei)個(ge)(ge)階段文(wen)件(jian)包含*統計軟件(jian)包。包括自(zi)動對(dui)焦功能、方便加載函(han)數、瞄準樣(yang)品和(he)拍攝、激光定位和(he)自(zi)動多(duo)點(dian)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)功能。

（三）X射線膜厚測試儀產品配(pei)置及技術指標說明

X射線管：高穩定性(xing)X光光管

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹(pi)窗(chuang)口， 陽極焦斑(ban)尺寸75um，油絕緣(yuan)，氣冷(leng)式，輻射安全(quan)電子管屏(ping)蔽。

50kV，1mA。高壓和電(dian)流設(she)定為應(ying)用程序提供優異(yi)性能。

探測器(qi)：SDD 探測器(qi)（可選(xuan)Si-Pin）

能量分(fen)辨率(lv)：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

濾光片/可選

初(chu)級濾光片：Al濾光片，自(zi)動(dong)切換

7個準(zhun)(zhun)直器：客(ke)戶可選準(zhun)(zhun)直器尺(chi)寸(cun)或定(ding)制特殊(shu)尺(chi)寸(cun)準(zhun)(zhun)直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

樣品(pin)定(ding)位：顯(xian)示屏上顯(xian)示樣品(pin)鎖定(ding)、簡(jian)易荷(he)載(zai)、激(ji)光定(ding)位及拍照功能

分析譜線：

- 2048通道逐次近(jin)似計算法(fa)ADC（模擬(ni)數字轉換）

- 基點改正(zheng)（基線(xian)本底(di)校正(zheng)）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件(jian)包含元(yuan)素ROI及測量讀數自動(dong)顯示(shi)

視頻系統：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統

- 觀察范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數：40X

- 照明方法：上(shang)照式

- 軟件控制取得高真(zhen)圖像

計算機、打印機（贈(zeng)送）

含計(ji)算機、顯(xian)示器(qi)、打印(yin)機、鍵盤、鼠標

含Win 7/Win 10系統。

Multi-Ray鍍層(ceng)分析(xi)軟件(jian)