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X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀

簡要描述:

X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜鍍層(ceng)厚度(du)(du)分(fen)析儀,1.鍍層(ceng)檢測(ce),多(duo)鍍層(ceng)檢測(ce)可(ke)達5層(ceng),精度(du)(du)及穩定(ding)性高。2.平(ping)臺(tai)尺寸(cun):620*525mm,樣品(pin)移動(dong)距(ju)離可(ke)達220*220*10mm。(固定(ding)臺(tai)可(ke)選)3.激光(guang)定(ding)位和自動(dong)多(duo)點測(ce)量(liang)功能。4.可(ke)檢測(ce)固體(ti)、粉(fen)末狀(zhuang)態(tai)材料。5.運行(xing)(xing)及維護(hu)成本低(di)、無(wu)易損(sun)易耗品(pin),對使用環(huan)境(jing)相對要(yao)求低(di)。6.可(ke)進行(xing)(xing)未知標樣掃(sao)描(miao)、無(wu)標樣定(ding)性,半(ban)定(ding)量(liang)分(fen)析。

更新(xin)時間:2022-04-24

品牌ISP/韓國價格區間20萬-50萬
產地類別進口應用領域環保,化工,電子

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀產品概述:

產品類(lei)型:能(neng)量色(se)散(san)X熒光光譜分析設備(bei)

產品名稱:鍍層厚度測試儀

型    號:iEDX-150WT

生(sheng) 產 商:韓國ISP公司

**地(di)區戰略合作伙伴(ban):廣(guang)州鴻熙(xi)電子科技有限公司(si)

產品圖片:

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀iEDX-150WT

工作條件

●工(gong)作溫度:15-30℃

●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

●相對濕度:<70%,無結(jie)露(lu)

●功率:150W + 550W


產品優勢及特征

(一)產品優勢

鍍(du)層(ceng)檢測(ce),多鍍(du)層(ceng)檢測(ce)可達5層(ceng),精度及(ji)穩定性高(見(jian)以下產品特征詳述(shu))。

平臺尺寸:620*525mm,樣(yang)品移動距離可達220*220*10mm。(固定(ding)臺可選(xuan))

激光定位和自動多(duo)點測量功能。

可檢測(ce)固體、粉末狀態材料。

運行及維(wei)護成本低、無易損易耗(hao)品,對使用環境相對要求低。

可進(jin)行未知標(biao)樣(yang)掃描、無(wu)標(biao)樣(yang)定性,半定量(liang)分(fen)析。

操作簡(jian)單、易學易懂(dong)、無損、高品質(zhi)、高性能、高穩定性,快(kuai)速出(chu)檢測(ce)結(jie)果。

可針對客戶個性化要求量身定做輔助(zhu)分析配置硬件(jian)。

軟件*升級。

無損檢(jian)測,一次性購買(mai)標樣(yang)可使用。

使(shi)用安心(xin)無憂,售后(hou)服務響應時間24H以內(nei),提供保姆(mu)式服務。

可(ke)以遠程操作(zuo),解決客戶使用(yong)中的后顧之憂。

可進(jin)行RoHS檢(jian)測(ce)(選配功(gong)能),測(ce)試RoHS指(zhi)令(ling)中(zhong)(zhong)的鉛(qian)、汞、鎘、鉻(ge)、鋇、銻、硒、砷等(deng)重金屬(shu),測(ce)試無(wu)鹵素(su)指(zhi)令(ling)中(zhong)(zhong)的溴、氯等(deng)有害(hai)元素(su)。亦可對成分進(jin)行分析。

(二)產品特征

高(gao)性能高(gao)精度X熒光光譜儀(XRF)

計(ji)算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐(zhu)次近似計(ji)算法ADC(模擬數字轉換器(qi))。

Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單(dan)的三步進(jin)行(xing)無(wu)標(biao)樣(yang)標(biao)定,使用基礎參數計(ji)算方法,對樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)的鍍層(ceng)厚度分(fen)析。

可以增(zeng)加RoHS檢測功能。

MTFFP (多層薄膜(mo)基本參數法) 模塊(kuai)進行鍍層厚(hou)度及全元素分析

勵磁(ci)模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模(mo)式(shi) 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍(du)層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測(ce)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

測(ce)試能力(基本配置:PIN探(tan)測(ce)器+0.3準直器)

當化金(jin)厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S

準(zhun)確(que)度規格(ge) ±5%

度規格<5%(COV變動率)

當化金厚度(du) >5u〞時(shi),測量時(shi)間為40S

準確度規(gui)格(ge) ±5%

度(du)規格<5%(COV變(bian)動(dong)率(lv))

當化(hua)銀厚度在5u〞-15u〞時,測量(liang)時間為(wei)40S

準確度規格 ±8%

度(du)規格<7%(COV變動率)

測化錫時,測量(liang)時間為40S

準確度規格 ±8%

度(du)規格<6% (COV變動率)

準確(que)度公式:準確(que)度百分(fen)比(bi)=(測試10次的平均值(zhi)-真值(zhi))/真值(zhi)*100%

度COV公式: (S/10次平均(jun)值)*100%

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系(xi)統

完整的統計函數(shu)均(jun)值(zhi)、 標準差、 低/高讀數(shu),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等

自動(dong)移動(dong)平臺,用戶使用預先設定好的(de)(de)程序(xu)進行自動(dong)樣品測量(liang)。大測量(liang)點數(shu)量(liang) = 每9999 每個(ge)(ge)階(jie)段文件(jian)。每個(ge)(ge)階(jie)段的(de)(de)文件(jian)有多(duo) 25 個(ge)(ge)不同應用程序(xu)。特殊(shu)工(gong)具(ju)如"線掃描"和"格柵(zha)"。每個(ge)(ge)階(jie)段文件(jian)包(bao)(bao)含*統計軟件(jian)包(bao)(bao)。包(bao)(bao)括(kuo)自動(dong)對焦功能、方便加(jia)載函數(shu)、瞄準樣品和拍攝、激(ji)光定位和自動(dong)多(duo)點測量(liang)功能。

X射線管:高穩定(ding)性X光光管,使(shi)用壽命(工作時間(jian)>18,000小時)

微焦點X射(she)線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口, 陽極焦斑尺寸(cun)75um,油絕緣,氣冷(leng)式,輻射安全電(dian)子(zi)管(guan)屏蔽。

50kV,1mA。高壓(ya)和電流(liu)設定為應用程序提供性能(neng)。

探測器:SDD 探測器(可(ke)選(xuan)Si-Pin)

能量分辨率(lv):125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

濾光片/可選

初級(ji)濾光(guang)片:Al濾光(guang)片,自動切換

7個準(zhun)直器(qi)(qi)(qi):客戶可選準(zhun)直器(qi)(qi)(qi)尺寸或定(ding)制(zhi)特殊尺寸準(zhun)直器(qi)(qi)(qi)。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平(ping)臺(tai):軟件程序控制步進式(shi)電機驅動(dong)X-Y軸移動(dong)大樣(yang)品平(ping)臺(tai)。

激光定位、簡易荷(he)載大負載量為5公(gong)斤

軟(ruan)件控制程序進行持(chi)續性(xing)自動測量

樣(yang)品定(ding)位:顯(xian)示屏上(shang)顯(xian)示樣(yang)品鎖(suo)定(ding)、簡易(yi)荷載、激光定(ding)位及拍照功能

分析譜線:

- 2048通道逐次近似(si)計算法ADC(模擬數(shu)字(zi)轉換(huan))

- 基(ji)點改(gai)正(zheng)(基(ji)線本底校正(zheng))

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯示

視頻系統(tong):高(gao)分辨率CCD攝像(xiang)頭(tou)、彩色(se)視頻系統(tong)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍(bei)數:40X

- 照明方法:上照式(shi)

- 軟件控制取得高真圖像(xiang)

計算機、打(da)印機(贈送)

含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標

含Win 7/Win 10系統。

Multi-Ray鍍(du)層分析軟件(jian)

注:設備需要配備穩壓器,需另(ling)計。

產(chan)品配置及技術指標說明

u 測量原(yuan)理:能量色散(san)X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末(mo)

u X射線(xian)光管:50KV,1mA

u過(guo)(guo)濾器:5過(guo)(guo)濾器自動轉換

u檢測系統:Pin探測器(可選SDD)

u能量分辨率:159eV(SDD:125eV)

u檢(jian)測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準(zhun)直器(qi)孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應用程序語言:韓/英/中

u分析方法(fa):FP/校準曲線,吸收,熒光(guang)

u儀器尺寸:840*613*385mm

u樣品移動(dong)距離(li):220*220*10 mm(自動(dong)臺)






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