美國Calmetrics標準片鋁Al無窮大標準樣品 標準片是(shi)用來為膜厚測(ce)試儀(yi)建立(li)標準檔案(an)的(de)(de)，同時也是(shi)檢(jian)驗(yan)和校(xiao)準膜厚測(ce)試儀(yi)測(ce)試數據(ju)是(shi)否準確的(de)(de)為一標準。它(ta)屬(shu)于(yu)易損易耗(hao)件(jian)，但是(shi)其的(de)(de)使(shi)用壽命卻(que)與(yu)操(cao)作方(fang)法及存放環(huan)境息息相(xiang)關，若操(cao)作得(de)當(dang)，小心保護且存放在干燥密(mi)封(feng)的(de)(de)皿器內，那么(me)可大大延長(chang)其的(de)(de)使(shi)用時間(jian)。膜厚標準片是(shi)膜厚測(ce)試儀(yi)（X射(she)線(xian)鍍層測(ce)厚儀(yi)）*的(de)(de)。

美國Calmetrics標準片鋁Al無窮大標準樣品 實物圖片：

美(mei)國Calmetrics公(gong)司(si)專業生(sheng)產X射線(xian)熒(ying)光鍍(du)層(ceng)薄膜標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)及元(yuan)素含量標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)，提供(gong)對標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)的(de)校準(zhun)(zhun)(zhun)服務，公(gong)司(si)通過ISO/IEC 17025認證。公(gong)司(si)提供(gong)所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)國國家標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)與技術研(yan)究院）標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)國國家標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)學會）標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)。其生(sheng)產的(de)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片質量精良，精度(du)高、穩定性(xing)好。

Calmetrics鍍層標準片(pian)適用于費希爾Fischer、韓國(guo)ISP、日(ri)立Hitachi（包括(kuo)：牛津(jin)儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱(re)電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津(jin)、電測(ce)、納優、天瑞、華唯等各廠牌的測(ce)厚(hou)儀。

X射線測厚儀鍍(du)(du)(du)層(ceng)標準片(pian)一般分為單鍍(du)(du)(du)層(ceng)片(pian)，雙鍍(du)(du)(du)層(ceng)片(pian)、多鍍(du)(du)(du)層(ceng)片(pian)、合金鍍(du)(du)(du)層(ceng)片(pian)、化學鍍(du)(du)(du)層(ceng)片(pian)。如(ru)：單鍍(du)(du)(du)層(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)(du)(du)層(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)(du)層(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍(du)(du)(du)層(ceng)：Sn-Pb/xx，合金鍍(du)(du)(du)層(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標準(zhun)片適(shi)用(yong)于X射線(xian)類儀(yi)器的標準(zhun)。市(shi)面上絕大(da)多部分的手(shou)持式(shi)熒(ying)光(guang)儀(yi)的厚度(du)標準(zhun)件都來自于美國Calmetrics公司。

X射線(xian)標(biao)準片(pian)又叫(jiao)膜厚儀(yi)(yi)校(xiao)(xiao)準片(pian)或者薄膜片(pian)，專業用于(yu)X射線(xian)測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)（膜厚儀(yi)(yi)）在測(ce)(ce)金屬鍍(du)層厚度時進行的儀(yi)(yi)器(qi)標(biao)準化校(xiao)(xiao)準及(ji)建立測(ce)(ce)量分析檔(dang)案。

銅 Cu 1μm 膜(mo)厚(hou)標準片測厚(hou)儀標準片又名膜(mo)厚(hou)儀校準片：

專業用(yong)于(yu)X射線(xian)測(ce)(ce)厚儀（膜厚儀）在測(ce)(ce)金屬鍍(du)層厚度(du)時(shi)進行的(de)標準(zhun)化(hua)校準(zhun)及建立測(ce)(ce)試檔案。也就是我(wo)們在膜厚測(ce)(ce)試中常(chang)用(yong)的(de)標準(zhun)曲線(xian)法，是測(ce)(ce)量已知厚度(du)或組成的(de)標準(zhun)樣(yang)品，根據熒光(guang)X-射線(xian)的(de)能量強度(du)及相應鍍(du)層厚度(du)的(de)對應關系，來得到(dao)標準(zhun)曲線(xian)，之后以(yi)此標準(zhun)曲線(xian)來測(ce)(ce)量未知樣(yang)品，以(yi)得到(dao)鍍(du)層厚度(du)或組成比率。

對于PCB、五金(jin)電(dian)鍍(du)和(he)半導體等行業(ye)使用(yong)測厚儀來檢測品質和(he)控制成本起到了很重要的作(zuo)用(yong)。