美國Calmetrics標準片銅厚Cu純元素無限大 標準(zhun)片是(shi)用來(lai)為膜(mo)厚測(ce)(ce)試儀建立標準(zhun)檔案(an)的(de)(de)，同時(shi)也是(shi)檢驗(yan)和(he)校準(zhun)膜(mo)厚測(ce)(ce)試儀測(ce)(ce)試數據是(shi)否準(zhun)確的(de)(de)為一(yi)標準(zhun)。它屬于易損易耗(hao)件，但(dan)是(shi)其的(de)(de)使用壽命卻與操作方法及存(cun)放(fang)環境息息相關，若操作得當(dang)，小心保(bao)護且存(cun)放(fang)在干燥密封的(de)(de)皿器內(nei)，那么可(ke)大大延長其的(de)(de)使用時(shi)間。膜(mo)厚標準(zhun)片是(shi)膜(mo)厚測(ce)(ce)試儀（X射線鍍層測(ce)(ce)厚儀）*的(de)(de)。

美國Calmetrics標準片銅厚Cu純元素無限大 實物圖片：

美(mei)(mei)國(guo)Calmetrics公(gong)司專業生產X射線熒光鍍層薄膜標(biao)準(zhun)件及元(yuan)素含量標(biao)準(zhun)件，提供(gong)(gong)對標(biao)準(zhun)件的校準(zhun)服務，公(gong)司通過ISO/IEC 17025認(ren)證(zheng)。公(gong)司提供(gong)(gong)所有證(zheng)書符合(he)NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)(mei)國(guo)國(guo)家標(biao)準(zhun)與技術研究院）標(biao)準(zhun)或(huo)ANSI（American National Standards Institute美(mei)(mei)國(guo)國(guo)家標(biao)準(zhun)學(xue)會）標(biao)準(zhun)。其生產的標(biao)準(zhun)片(pian)質(zhi)量精(jing)良，精(jing)度高、穩(wen)定性好。

Calmetrics鍍層標準(zhun)片適用于費(fei)希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包(bao)括(kuo)：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優、天瑞、華唯(wei)等各廠牌的測厚(hou)儀。

X射線(xian)測(ce)厚儀鍍(du)層(ceng)(ceng)標(biao)準片(pian)(pian)一般分為單鍍(du)層(ceng)(ceng)片(pian)(pian)，雙鍍(du)層(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、多鍍(du)層(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、合金(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、化學鍍(du)層(ceng)(ceng)片(pian)(pian)。如(ru)：單鍍(du)層(ceng)(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)層(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)層(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合金(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合金(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層(ceng)標(biao)準(zhun)片適用于(yu)X射線類儀(yi)器的標(biao)準(zhun)。市(shi)面上絕大多(duo)部分的手(shou)持式熒光儀(yi)的厚度標(biao)準(zhun)件都來(lai)自于(yu)美(mei)國(guo)Calmetrics公司。

X射線標準(zhun)(zhun)片又叫(jiao)膜(mo)厚(hou)儀(yi)校準(zhun)(zhun)片或者(zhe)薄膜(mo)片，專(zhuan)業用于(yu)X射線測厚(hou)儀(yi)（膜(mo)厚(hou)儀(yi)）在測金屬鍍層(ceng)厚(hou)度(du)時(shi)進(jin)行(xing)的儀(yi)器(qi)標準(zhun)(zhun)化校準(zhun)(zhun)及建(jian)立測量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標準片(pian)測厚儀標準片(pian)又(you)名膜厚儀校準片(pian)：

專業用于X射線(xian)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀（膜(mo)厚(hou)(hou)儀）在(zai)測(ce)(ce)金屬鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)時進行的(de)標(biao)(biao)準(zhun)化(hua)校準(zhun)及建立測(ce)(ce)試檔(dang)案。也(ye)就是我們在(zai)膜(mo)厚(hou)(hou)測(ce)(ce)試中常用的(de)標(biao)(biao)準(zhun)曲(qu)線(xian)法，是測(ce)(ce)量(liang)已知厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)或組成(cheng)的(de)標(biao)(biao)準(zhun)樣(yang)品(pin)，根(gen)據熒光X-射線(xian)的(de)能量(liang)強度(du)(du)(du)及相應(ying)鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)的(de)對應(ying)關(guan)系，來得(de)到(dao)標(biao)(biao)準(zhun)曲(qu)線(xian)，之后以此標(biao)(biao)準(zhun)曲(qu)線(xian)來測(ce)(ce)量(liang)未知樣(yang)品(pin)，以得(de)到(dao)鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)或組成(cheng)比率(lv)。

對于PCB、五金(jin)電鍍(du)和(he)半導(dao)體等行業使用(yong)測(ce)厚(hou)儀來檢(jian)測(ce)品質和(he)控(kong)制成本(ben)起(qi)到了很(hen)重要的作用(yong)。