美國Calmetrics元素鎘Cd/xx鍍層標準片是(shi)用(yong)(yong)來(lai)為膜厚(hou)測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)建立標(biao)準檔案的(de)(de)，同時也是(shi)檢(jian)驗(yan)和校準膜厚(hou)測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)測(ce)試(shi)數據是(shi)否(fou)準確的(de)(de)為一標(biao)準。它(ta)屬(shu)于易損易耗(hao)件，但(dan)是(shi)其的(de)(de)使(shi)用(yong)(yong)壽命卻(que)與操作(zuo)(zuo)方(fang)法及(ji)存放環境息息相關(guan)，若操作(zuo)(zuo)得當，小心(xin)保(bao)護且存放在干燥(zao)密封的(de)(de)皿(min)器內，那么可大(da)大(da)延(yan)長其的(de)(de)使(shi)用(yong)(yong)時間。膜厚(hou)標(biao)準片是(shi)膜厚(hou)測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)（X射線(xian)鍍層測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)）*的(de)(de)。

美國Calmetrics元素鎘Cd/xx鍍層標準片實物圖片：

美(mei)國(guo)(guo)Calmetrics公司專業生產X射線熒光(guang)鍍層薄膜標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)及元素含(han)量標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)，提供(gong)對標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)件(jian)的校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)服務(wu)，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供(gong)所有證書符(fu)合(he)NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)國(guo)(guo)國(guo)(guo)家標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)與技術研(yan)究院）標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)國(guo)(guo)國(guo)(guo)家標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)學會）標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)。其生產的標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)片質(zhi)量精良，精度高、穩定性好。

Calmetrics鍍層標(biao)準片適(shi)用(yong)于(yu)費希爾Fischer、韓國ISP、日(ri)立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精(jing)工Seiko）熱電(dian)(dian)Thermo、Veeco、微(wei)先鋒(feng)Micro Pioneer、島津、電(dian)(dian)測、納優(you)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。

X射線測厚(hou)儀鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)標(biao)準(zhun)片(pian)一般分為(wei)單(dan)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、化(hua)學鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)。如：單(dan)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合(he)金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標準片(pian)適用于(yu)X射(she)線類儀器的標準。市(shi)面(mian)上(shang)絕大(da)多部分的手持式熒光(guang)儀的厚(hou)度標準件(jian)都來(lai)自(zi)于(yu)美國Calmetrics公(gong)司(si)。

X射線標準(zhun)片(pian)又(you)叫膜厚儀校(xiao)準(zhun)片(pian)或(huo)者薄膜片(pian)，專業用于X射線測(ce)厚儀（膜厚儀）在測(ce)金屬鍍層(ceng)厚度時(shi)進行的儀器標準(zhun)化(hua)校(xiao)準(zhun)及建立測(ce)量分析(xi)檔案。

常用規格如下：