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鍍層測厚儀咋使用時要遵守什么規定呢
  • 更新日期:2018-06-18      瀏覽次數:812
    •    鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線,然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度,這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加,厚度值也增加,但不是直線關系;通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。
       
        鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,鍍層測厚儀是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
       
        使用鍍層測厚儀時應當遵守的規定
       
        a基體金屬特性
       
        對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
       
        對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
       
        b基體金屬厚度
       
        檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
       
        c邊緣效應
       
        不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
       
        d曲率
       
        不應在試件的彎曲表面上測量。
       
        e讀數次數
       

      鍍層測厚儀
      (鍍層測厚儀產品圖)