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美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚

簡要描述:

美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚
用來為(wei)膜(mo)厚測(ce)試(shi)儀建立標(biao)準(zhun)檔案的,同(tong)時也是檢驗和(he)校準(zhun)膜(mo)厚測(ce)試(shi)儀測(ce)試(shi)數據(ju)是否準(zhun)確的為(wei)一標(biao)準(zhun)。

更新時間:2022-04-24

品牌Calmetrics/美國貨號HxPbINF
規格無限厚供貨周期現貨
主要用途校準膜厚測試儀,建立標準測試檔案應用領域環保,化工,電子
品牌CALMETRICS貨期現貨
用途用于標定X射線測厚儀

美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚標準(zhun)片是(shi)用來為膜(mo)厚測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)建立標準(zhun)檔案的(de),同時(shi)也是(shi)檢(jian)驗(yan)和(he)校準(zhun)膜(mo)厚測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)測(ce)(ce)(ce)試數據是(shi)否準(zhun)確的(de)為一標準(zhun)。它屬(shu)于易損易耗件,但是(shi)其(qi)的(de)使用壽(shou)命卻與操作(zuo)方法(fa)及(ji)存放環境(jing)息(xi)息(xi)相關,若操作(zuo)得當(dang),小心(xin)保護且存放在(zai)干燥密封(feng)的(de)皿器內,那(nei)么可大大延(yan)長其(qi)的(de)使用時(shi)間。膜(mo)厚標準(zhun)片是(shi)膜(mo)厚測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)(X射線鍍層測(ce)(ce)(ce)厚儀(yi))*的(de)。

美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚實物圖片:

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美國Calmetrics公司專(zhuan)業生產X射線熒光(guang)鍍層薄膜標(biao)(biao)(biao)準(zhun)件及(ji)元素含量(liang)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)件,提供(gong)對標(biao)(biao)(biao)準(zhun)件的(de)校(xiao)準(zhun)服務,公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供(gong)所有證書符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biao)(biao)(biao)準(zhun)與(yu)技術研究院)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biao)(biao)(biao)準(zhun)學會(hui))標(biao)(biao)(biao)準(zhun)。其生產的(de)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)片質量(liang)精良(liang),精度(du)高(gao)、穩定性好(hao)。

Calmetrics鍍(du)層標準片適(shi)用(yong)于費(fei)希(xi)爾Fischer、韓國(guo)ISP、日(ri)立Hitachi(包括:牛津儀器Oxford(CMI)、精工Seiko)熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測(ce)、納優、天瑞、華唯等各廠(chang)牌的測(ce)厚儀。

X射線測厚儀鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)標準片(pian)(pian)(pian)一般分為單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)(pian),雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)(pian)、多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)(pian)、合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)(pian)、化(hua)學(xue)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)(pian)。如:單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng):Au/xx,雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng):Au/Ni/xx,三(san)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng):Au/Pd/Ni/xx,合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng):Sn-Pb/xx,合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng):Ni-P/xx。

鍍層標準片(pian)適(shi)用于X射線(xian)類儀(yi)器的標準。市(shi)面上絕(jue)大(da)多部(bu)分的手持(chi)式熒光儀(yi)的厚度標準件都來自于美(mei)國Calmetrics公(gong)司。

X射(she)線標準(zhun)片又(you)叫膜(mo)厚(hou)儀(yi)校(xiao)準(zhun)片或者薄膜(mo)片,專業(ye)用于X射(she)線測厚(hou)儀(yi)(膜(mo)厚(hou)儀(yi))在測金屬鍍(du)層厚(hou)度時進行的儀(yi)器標準(zhun)化校(xiao)準(zhun)及建立(li)測量分析檔案。

銅(tong) Cu 1μm 膜(mo)厚標準片(pian)測厚儀標準片(pian)又名膜(mo)厚儀校準片(pian):

專業用(yong)于X射(she)線(xian)(xian)測(ce)(ce)厚儀(膜厚儀)在測(ce)(ce)金屬鍍層厚度(du)時進行的標準(zhun)化校準(zhun)及(ji)建立測(ce)(ce)試檔案。也就是(shi)我們在膜厚測(ce)(ce)試中常用(yong)的標準(zhun)曲線(xian)(xian)法,是(shi)測(ce)(ce)量已(yi)知厚度(du)或組(zu)成(cheng)的標準(zhun)樣品(pin),根據熒光X-射(she)線(xian)(xian)的能量強度(du)及(ji)相應(ying)鍍層厚度(du)的對應(ying)關系(xi),來得(de)到標準(zhun)曲線(xian)(xian),之后以此標準(zhun)曲線(xian)(xian)來測(ce)(ce)量未知樣品(pin),以得(de)到鍍層厚度(du)或組(zu)成(cheng)比率。

對于(yu)PCB、五金電鍍和(he)半導體等(deng)行業使(shi)用測厚(hou)儀來(lai)檢測品質和(he)控制成本起到(dao)了很重要的作(zuo)用。

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