美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚標準(zhun)片是用(yong)來為(wei)(wei)膜(mo)厚測試儀(yi)建立(li)標準(zhun)檔案的，同時也是檢(jian)驗(yan)和校準(zhun)膜(mo)厚測試儀(yi)測試數據是否準(zhun)確的為(wei)(wei)一標準(zhun)。它屬于(yu)易(yi)損易(yi)耗件，但(dan)是其(qi)的使用(yong)壽命卻(que)與操作方法及存(cun)放環境息息相關，若操作得當，小心保護且存(cun)放在干燥(zao)密(mi)封(feng)的皿器內，那么可大大延長其(qi)的使用(yong)時間。膜(mo)厚標準(zhun)片是膜(mo)厚測試儀(yi)（X射(she)線鍍層(ceng)測厚儀(yi)）*的。

美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚實物圖片：

美國(guo)(guo)Calmetrics公司(si)專業生產X射線熒(ying)光鍍(du)層薄膜標(biao)(biao)準(zhun)件(jian)及元素含量(liang)標(biao)(biao)準(zhun)件(jian)，提(ti)供(gong)(gong)對標(biao)(biao)準(zhun)件(jian)的校準(zhun)服務，公司(si)通過ISO/IEC 17025認(ren)證(zheng)。公司(si)提(ti)供(gong)(gong)所有證(zheng)書符合(he)NIST（National Institute of Standards and Technology美國(guo)(guo)國(guo)(guo)家(jia)標(biao)(biao)準(zhun)與技術研究院(yuan)）標(biao)(biao)準(zhun)或(huo)ANSI（American National Standards Institute美國(guo)(guo)國(guo)(guo)家(jia)標(biao)(biao)準(zhun)學會）標(biao)(biao)準(zhun)。其生產的標(biao)(biao)準(zhun)片質量(liang)精(jing)良，精(jing)度高(gao)、穩定性好。

Calmetrics鍍(du)層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立(li)Hitachi（包括：牛(niu)津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優、天瑞、華(hua)唯等各(ge)廠(chang)牌的(de)測厚儀。

X射線測(ce)厚儀(yi)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)標(biao)準片(pian)(pian)一般分為單(dan)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、化學鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)。如(ru)：單(dan)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三(san)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標(biao)準片適用于(yu)X射線類儀(yi)器的標(biao)準。市面上絕(jue)大多部(bu)分的手(shou)持式熒(ying)光儀(yi)的厚度(du)標(biao)準件都來自于(yu)美國Calmetrics公(gong)司。

X射線(xian)(xian)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)片又叫膜(mo)厚(hou)(hou)儀校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)片或者薄膜(mo)片，專業用于X射線(xian)(xian)測(ce)厚(hou)(hou)儀（膜(mo)厚(hou)(hou)儀）在測(ce)金(jin)屬鍍層厚(hou)(hou)度時(shi)進行(xing)的(de)儀器標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)化(hua)校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)及建立(li)測(ce)量(liang)分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚(hou)標準片(pian)測(ce)厚(hou)儀標準片(pian)又名膜厚(hou)儀校準片(pian)：

專業用(yong)于(yu)X射線(xian)(xian)(xian)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)（膜厚(hou)儀(yi)）在(zai)測(ce)(ce)金屬鍍層厚(hou)度(du)(du)(du)時進行的標準(zhun)(zhun)化校準(zhun)(zhun)及建立測(ce)(ce)試(shi)檔案。也(ye)就是我們在(zai)膜厚(hou)測(ce)(ce)試(shi)中(zhong)常用(yong)的標準(zhun)(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)法，是測(ce)(ce)量(liang)已知厚(hou)度(du)(du)(du)或(huo)組(zu)成的標準(zhun)(zhun)樣品，根據熒光X-射線(xian)(xian)(xian)的能量(liang)強度(du)(du)(du)及相應(ying)鍍層厚(hou)度(du)(du)(du)的對應(ying)關系，來得(de)到標準(zhun)(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)，之后以(yi)此標準(zhun)(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)來測(ce)(ce)量(liang)未(wei)知樣品，以(yi)得(de)到鍍層厚(hou)度(du)(du)(du)或(huo)組(zu)成比率。

對于PCB、五金電鍍和(he)(he)半導體等行業(ye)使用測厚儀(yi)來(lai)檢測品質和(he)(he)控制成本起到了很重要的作用。