美國Calmetrics純元素標準片Pd無限厚標(biao)準片是用(yong)(yong)來為膜(mo)(mo)(mo)厚(hou)測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)建立標(biao)準檔案的(de)，同時(shi)也(ye)是檢驗(yan)和校準膜(mo)(mo)(mo)厚(hou)測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)數(shu)據是否(fou)準確的(de)為一標(biao)準。它屬于易損易耗(hao)件，但(dan)是其(qi)的(de)使(shi)用(yong)(yong)壽命卻與操(cao)作方法及存放環境息息相關，若操(cao)作得當，小心(xin)保護(hu)且存放在干燥密封的(de)皿器內，那么可大大延長其(qi)的(de)使(shi)用(yong)(yong)時(shi)間。膜(mo)(mo)(mo)厚(hou)標(biao)準片是膜(mo)(mo)(mo)厚(hou)測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi)（X射線(xian)鍍層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)）*的(de)。

美國Calmetrics純元素標準片Pd無限厚實物圖片：

美國Calmetrics公司專(zhuan)業生(sheng)產(chan)X射線(xian)熒光鍍層(ceng)薄膜標(biao)準(zhun)(zhun)件(jian)及元素含量標(biao)準(zhun)(zhun)件(jian)，提供(gong)對標(biao)準(zhun)(zhun)件(jian)的校準(zhun)(zhun)服務(wu)，公司通過ISO/IEC 17025認證(zheng)。公司提供(gong)所有證(zheng)書(shu)符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標(biao)準(zhun)(zhun)與技(ji)術研究院）標(biao)準(zhun)(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美國國家標(biao)準(zhun)(zhun)學會）標(biao)準(zhun)(zhun)。其(qi)生(sheng)產(chan)的標(biao)準(zhun)(zhun)片質量精良，精度高、穩定性好。

Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓(han)國(guo)ISP、日(ri)立Hitachi（包括：牛津儀器(qi)Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒(feng)Micro Pioneer、島津、電測、納優、天瑞、華(hua)唯(wei)等各廠(chang)牌的測厚(hou)儀。

X射(she)線測厚儀(yi)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)標(biao)準片一般分為單鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片，雙鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、多鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、合(he)金(jin)(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、化學鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片。如：單鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合(he)金(jin)(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合(he)金(jin)(jin)鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標準(zhun)片適(shi)用于X射線類儀器(qi)的(de)標準(zhun)。市面上絕大多部分的(de)手持式熒(ying)光儀的(de)厚度標準(zhun)件都來(lai)自于美國Calmetrics公司。

X射線標(biao)準(zhun)片又叫膜厚(hou)儀(yi)(yi)校準(zhun)片或者薄(bo)膜片，專業用于X射線測厚(hou)儀(yi)(yi)（膜厚(hou)儀(yi)(yi)）在(zai)測金屬鍍層(ceng)厚(hou)度時進行的(de)儀(yi)(yi)器標(biao)準(zhun)化校準(zhun)及建立(li)測量分析(xi)檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚(hou)標(biao)準片測(ce)厚(hou)儀(yi)標(biao)準片又名膜厚(hou)儀(yi)校準片：

專業用于X射線(xian)(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)（膜厚(hou)儀(yi)）在測(ce)(ce)(ce)(ce)金屬鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)時進(jin)行的(de)標準(zhun)化校準(zhun)及建立測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)檔案。也(ye)就是(shi)我們(men)在膜厚(hou)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)中常用的(de)標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)法，是(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)量已知(zhi)厚(hou)度(du)(du)或(huo)組成的(de)標準(zhun)樣品，根據熒光X-射線(xian)(xian)的(de)能量強度(du)(du)及相(xiang)應鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)的(de)對應關(guan)系，來(lai)(lai)得到標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)，之后以(yi)此標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)來(lai)(lai)測(ce)(ce)(ce)(ce)量未(wei)知(zhi)樣品，以(yi)得到鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)(du)或(huo)組成比率。

對于PCB、五金電鍍(du)和半導體等行業(ye)使(shi)用測(ce)厚儀來檢測(ce)品質和控制(zhi)成本起到(dao)了很重要的作用。